反射高能电子衍射在薄膜生长中的表面分析

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  • 印刷时间:2012年03月01日
  • 开 本:16开
  • 纸 张:胶版纸
  • 包 装:平装
  • 是否套装:否
  • 国际标准书号ISBN:9787030338150
作者:魏贤华 著出版社:科学出版社出版时间:2012年03月 
内容简介

  反射高能电子衍射作为一种新型的表面分析工具,是随着超高真空薄膜制备系统的发展与完善,而应用于薄膜生长中的测试分析中。本书基于表面物理与晶体衍射的原理,重点介绍了反射高能电子衍射的应用手段,包括其基本原理、标定、定量分析、强度振荡以及*的相关进展。

目  录
序言
前言
第1章 固体表面与表面分析方法
 1.1 表面的定义与分类
 1.1.1 表面的定义
 1.1.2 表面的分类
 1.1.3 清洁表面
 1.2 表面分析方法
 1.2.1 扫描隧道显微镜的原子力显微镜
 1.2.2 电子显微镜
 1.2.3 X射线衍射
 1.2.4 低能电子衍射
 1.3 RHEED的回顾与发展
 1.3.1 早期实验中的静态分析

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