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POD产品说明：
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2. 按需印刷的图书装帧均为平装书（含原为精装的图书）。由于印刷工艺、彩墨的批次不同，颜色会与老版本略有差异，但通常会比老版本的颜色更准确。原书内容含彩图的，统一变成黑白图，原书含光盘的，统一无法提供光盘。
3. 按需印刷的图书制作成本高于传统的单本成本，因此售价高于原书定价。
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5. 按需印刷的图书，属于定制产品，不可取消订单，无质量问题不支持退货。
内容简介
《纳米数字集成电路老化效应:分析、预测及优化》可为从事大规模数字集成电路可靠性设计及容错计算方向研究的科技人员，以及从事大规模集成电路设计和测试的工程技术人员提供参考；也可作为普通高等院校集成电路专业的教师和研究生的参考资料。
目 录
目录 第1章 绪论1.1 nbti效应1.2 工艺偏差1.3 章节组织结构第2章 国际、国内研究现状2.1 硅前老化分析和预测2.1.1 反应-扩散模型2.1.2 基于额定参数值的nbti模型2.1.3 考虑工艺偏差的老化统计模型和分析2.2 在线电路老化预测2.2.1 基于时延监测原理的在线老化预测方法2.2.2 超速时延测试2.2.3 基于测量漏电变化原理的在线老化预测方法2.3 相关的优化方法2.3.1 电路级优化2.3.2 体系结构级优化2.4 本章小结第3章 面向工作负载的电路老化分析和预测3.1 老化分析和预测方法概述3.2 关键通路和关键门的识别3.2.1 潜在关键通路识别3.2.2 潜在关键通路的精简3.2.3 关键门的识别3.3 占空比的求解3.3.1 时延约束3.3.2 占空比取值约束3.4 实验及结果分析3.5 本章小结第4章 电路老化的统计预测和优化4.1 硅前电路老化的统计预测和优化4.1.1 门级老化统计模型4.1.2 统计关键门的识别4.1.3 门设计尺寸缩放算法4.1.4 实验及结果分析4.2 硅前和硅后协同的电路老化统计分析和预测4.2.1 方法概述4.2.2 目标通路的识别4.2.3 硅后学习4.2.4 实验及结果分析4.3 本章小结第5章 在线电路老化预测5.1 基于时延监测原理的在线电路老化预测方法5.1.1 双功能时钟信号生成电路5.1.2 抗工艺偏差影响的设计考虑5.1.3 实验及结果分析5.2 基于测量漏电变化原理的在线电路老化预测方法5.2.1 漏电变化与时延变化之间相关性的刻画5.2.2 漏电变化的测量5.2.3 实验及结果分析5.3 本章小结第6章 多向量方法优化电路老化和漏电6.1 单独优化nbti效应导致的电路老化6.1.1 控制向量的生成6.1.2 **占空比的求解6.1.3 硬件实现6.1.4 实验及结果分析6.2 电路老化和静态漏电的协同优化6.2.1 协同优化模型6.2.2 **占空比的求解6.2.3 实验及结果分析6.3 本章小结第7章 总结与未来研究工作展望7.1 研究内容总结7.2 未来研究工作展望参考文献