内容简介
本书以高速PCB/封装为主要研究对象,辅之以典型的仿真示例,深入阐明电路中信号完整性(SI)、电源完整性(PI)和电磁完整性(EMI)三类性能分析技术。内容侧重于引导对高速电路原理的感悟和理解,注重培养工程师们对高速设计的直觉把握。
本书以深入浅出的方式,从系统及电路的高速效应出发,对互连设计与完整性分析技术进行全方位、多角度的透视;完整论述SI、PI和EMI间的相关机理和本质;着力揭示无源元件的物理及拓扑结构与复杂电气性能之间的内在联系;附录还介绍了高速信令和PI仿真技术。
书中介绍的技术可直接指导实际高速电路与系统的设计与分析,具有很强的工程实用性。本书的读者覆盖面广,可以作为研究生学习广义信号完整性的课程教材或参考书,也可以作为高速电路与系统设计师们的研发手册与实践指南。
本书以深入浅出的方式,从系统及电路的高速效应出发,对互连设计与完整性分析技术进行全方位、多角度的透视;完整论述SI、PI和EMI间的相关机理和本质;着力揭示无源元件的物理及拓扑结构与复杂电气性能之间的内在联系;附录还介绍了高速信令和PI仿真技术。
书中介绍的技术可直接指导实际高速电路与系统的设计与分析,具有很强的工程实用性。本书的读者覆盖面广,可以作为研究生学习广义信号完整性的课程教材或参考书,也可以作为高速电路与系统设计师们的研发手册与实践指南。