内容简介
本标准按照GB／T1.1-2009给出的规则起草。
本标准代替GB／T5201-1994《带电粒子半导体探测器测试方法》，本标准与GB／T5201--1994(以下简称原标准)相比，主要技术变化如下
——增加了前言；
——增加了第2章“规范性引用文件”，其他章的编号依次后推；
——将原标准“术语、符号”改为第3章“术语和定义”，并完全引用GB／T4960。6—2008，不再另行编写；
——．删除了原标准2。2“符号”部分，在文中用到符号的地方予以说明；
——增加了4．1“测试的参考条件或标准试验条件”代替原标准3．1；
——将原标准3．3和3．4合并为4．3；删除了原标准3．7；
——5．1“电压一电流特性(V-I特性)”增加了反向V—I特性测试；
本标准代替GB／T5201-1994《带电粒子半导体探测器测试方法》，本标准与GB／T5201--1994(以下简称原标准)相比，主要技术变化如下
——增加了前言；
——增加了第2章“规范性引用文件”，其他章的编号依次后推；
——将原标准“术语、符号”改为第3章“术语和定义”，并完全引用GB／T4960。6—2008，不再另行编写；
——．删除了原标准2。2“符号”部分，在文中用到符号的地方予以说明；
——增加了4．1“测试的参考条件或标准试验条件”代替原标准3．1；
——将原标准3．3和3．4合并为4．3；删除了原标准3．7；
——5．1“电压一电流特性(V-I特性)”增加了反向V—I特性测试；