低温傅立叶变换红外光谱法测量硅单晶中Ⅲ、Ⅴ族杂质含量的测试方法

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• 版 次：1
• 页 数：6
• 字 数：14000
• 印刷时间：2010年01月01日
• 开 本：大16开
• 纸 张：胶版纸
• 包 装：平装
• 是否套装：否
• 国际标准书号ISBN：GB/T24581-2009

作者:本社 编出版社: 出版时间:2010年01月