全面的功能验证:完整的工业流程

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  • 版 次:1
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  • 印刷时间:2010年03月01日
  • 开 本:16开
  • 纸 张:胶版纸
  • 包 装:平装
  • 是否套装:否
  • 国际标准书号ISBN:9787111296416
  • 丛书名:国际信息工程先进技术译丛
作者:(美)威立 等著,沈海华,乐翔 译出版社:机械工业出版社出版时间:2010年03月 
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内容简介
本书分为5个部分。第1部分的内容是功能验证概述,包括概念背景、验证计划、验证策略和一些基本练习。第1部分还介绍了验证周期的概念和层次化验证的概念,以及在实践中怎样将巨型设计分解为可验证的单元。第2部分和第3部分关注两个最主要的功能验证方法:基于模拟的验证方法和形式验证方法。第4部分把注意力集中在验证周期的后期阶段,包括回归测试和“逃逸”错误分析,以及一些高级的验证技术。第5部分,是一些验证实例研究的集合,进一步强调了验证周期和验证过程中的相关概念。
  本书既可作为科研院所、高等工科院校计算机、电子、微电子等专业的教材或教学参考书,也可作为集成电路验证领域的工程师的技术指南或工具书。
目  录
译者序
对本书的评论
原书序
前言
第1部分 验 证 简 介
 第1章 芯片设计的验证
 第2章 验证流程
 第3章 基于模拟的验证基础
 第4章 验证计划
第2部分 基于模拟的验证
 第5章 硬件描述语言和模拟引擎
 第6章 创建环境
 第7章 基于模拟的测试激励生成策略
 第8章 基于模拟的验证中的结果检查策略

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