纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测

当前位置:首页 > 工业技术 > 电子 通信 > 纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测

• 版 次：1
• 页 数：
• 字 数：
• 印刷时间：2016年01月01日
• 开 本：16开
• 纸 张：胶版纸
• 包 装：平装
• 是否套装：
• 国际标准书号ISBN：9787111521846
• 丛书名：国际信息工程先进技术译丛

作者:桑迪普 K.戈埃尔出版社:机械工业出版社出版时间:2016年01月