互换性与技术测量基础

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  • 版 次:1
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  • 字 数:
  • 印刷时间:2010年06月01日
  • 开 本:16开
  • 纸 张:胶版纸
  • 包 装:平装
  • 是否套装:否
  • 国际标准书号ISBN:9787564031084
作者:夏家华,沈顺成 主编出版社:北京理工大学出版社出版时间:2010年06月 

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