自动测试及接口技术——普通高等教育测控信息技术规划教材

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  • 版 次:1
  • 页 数:267
  • 字 数:426000
  • 印刷时间:2005年02月01日
  • 开 本:
  • 纸 张:胶版纸
  • 包 装:平装
  • 是否套装:否
  • 国际标准书号ISBN:9787111157793
  • 丛书名:普通高等教育测控信息技术规划教材
作者:陈长龄 等编著出版社:机械工业出版社出版时间:2005年02月 
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内容简介
本书主要讲述:现代自动测试系统(ATS)体系结构模型和发展概况,GPIB和VXI总线接口技术及其接口电路的设计方法,程控电子测试设备器件消息的消息交换控制协议、编码格工、公用命令和特定的标准命令,GPIB测试控制吕、VXI内嵌式控制器和VIX零号槽模块的工作原理和设计技术,现代自动测试系统的硬件平台和测试软件平台的系统集成技术。本书全面阐述了现代自动测试系统相关技术,侧重在国内外实验室内普遍应用的积木式ATS工作原理和应用技术,特别突出现代ATS的系统集成技术。在研讨目前国内外军事领域应用较多的模块式仪器系统时,重点强调数字接口技术。
全书理论与实践相结合,硬件与软件相结合,原理与实用技术相结合。各章不但论述技术原理,而且研讨了技术实现措施,最后举例说明应用,尤其反映了当今自动测试系统的前沿技术。既有选进性,也有实用性,是一部工程技术教科书和实用参考书。
目  录
前言
第一章 绪论
第一节 自动测试系统的出现及意义
第二节 现代自动测试系统体系结构
第三节 现代自动测试系统类型
第四节 网络化测试技术
第五节 自动测试技术平台技术
习题和思考题
参考文献
第二章 GPIB通用数字接口总线路
第一节 GPIB数字接口的发展
第二节 GPIB的基本特性
第三节 GPIB器件模型
第四节 数字总线结构

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