互换性与测量技术基础

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  • 版 次:1
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  • 印刷时间:2011年08月01日
  • 开 本:16开
  • 纸 张:胶版纸
  • 包 装:平装
  • 是否套装:否
  • 国际标准书号ISBN:9787121135866
  • 丛书名:普通高等教育“十二五”机电类规划教材
作者:万秀莲,连黎明 主编出版社:电子工业出版社出版时间:2011年08月 
内容简介

  本书系统地介绍了互换性与测量技术的基本知识,采用我国*国家标准,介绍了相关的测量技术。主要包括绪论、圆柱公差与配合、长度测量基础、形状和位置公差及检测、表面粗糙度及检测、光滑工件尺寸检验及量规设计、滚动轴承的公差和配合、圆锥的公差配合及检测、螺纹公差及检测、键和花键的公差与配合、圆柱齿轮传动公差及检测等内容。书后各章附有习题,供读者复习和巩固知识。

目  录
第1章 绪论
1.1 互换性与公差的概念
1.1.1 互换性的概念
1.1.2 公差的概念
1.2 标准化与优先数系
1.2.1 标准化的意义
1.2.2 优先数和优先数系
第2章 圆柱公差与配合
2.1 概述
2.2 公差与配合的基本术语及定义
2.2.1 孔、轴
2.2.2 尺寸
2.2.3 公差与偏差
2.2.4 配合与配合制

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