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数字设计引论(第2版)

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版次：2
页数：
字数：
印刷时间：2010年04月01日
开本：16开
纸张：胶版纸
包装：平装
是否套装：否
国际标准书号ISBN：9787040290769

作者:臧春华，沈嗣昌，蒋璇　编著出版社:高等教育出版社出版时间:2010年04月

内容简介

本书将讨论各种逻辑描述的工具、逻辑变换的基本原理和方法以及逻辑模块与元件的原理和应用。鉴于算法设计与电路结构的选择是最困难、*创造性的工作，因此，本书将通过实例介绍多种电路结构，介绍算法设计的基本思路。考虑到在非逻辑约束确定之后，许多逻辑变换将可由设计自动化工具来完成，因此，本书对逻辑变换的内容作了适当的精简。

目　　录

引论
第1章数制与编码
§1-1 数制
1.1.1 十进制和任意进制
1.1.2 二进制
1.1.3 二进制数的算术运算
1.1.4 十六进制和八进制
§1-2 二值编码
1.2.1 格雷码
1.2.2 带符号数的编码表示法
1.2.3 用反码和补码进行加/减运算
1.2.4 二一十进制码
1.2.5 ASCII码
§1-3 可靠性编码

引论 第1章 数制与编码 §1-1 数制 1.1.1 十进制和任意进制 1.1.2 二进制 1.1.3 二进制数的算术运算 1.1.4 十六进制和八进制 §1-2 二值编码 1.2.1 格雷码 1.2.2 带符号数的编码表示法 1.2.3 用反码和补码进行加/减运算 1.2.4 二一十进制码 1.2.5 ASCII码 §1-3 可靠性编码 1.3.1 奇偶校验码 1.3.2 Berger码 1.3.3 纠错码的基本概念 §1-4 应用实例 本章习题 第2章 组合逻辑函数 §2-1 布尔代数 2.1.1 代入规则 2.1.2 反演规则 2.1.3 对偶规则 §2-2 逻辑函数和逻辑表达式 2.2.1 导出逻辑表达式与真值表 2.2.2 积之和表达式与最小项表达式 2.2.3 和之积表达式与最大项表达式 §2-3 逻辑图 §2-4 卡诺图及逻辑化简 2.4.1 真值表与卡诺图 2.4.2 表达式与卡诺图 2.4.3 由卡诺图写出最简表达式 2.4.4 未完全规定的逻辑函数的化简 §2-5 计算机辅助逻辑化简 2.5.1 逻辑函数的描述 2.5.2 蕴涵 2.5.3 一种启发式逻辑函数最小化算法 2.5.4 ESPRESSO算法 本章习题 第3章 组合逻辑电路设计 §3-1 集成逻辑电路的电气特性 3.1.1 集成电路的主要电气指标 3.1.2 逻辑电路的输出结构 3.1.3 正、负逻辑极性 3.1.4 逻辑符号 §3-2 组合逻辑电路的门级实现 §3-3 常用组合逻辑模块及其应用 3.3.1 4位并行加法器 3.3.2 数值比较器 3.3.3 编码器 3.3.4 译码器 3.3.5 数据选择器 §3-4 基于功能分解的组合电路设计方法 3.4.1 功能分析和函数分解 3.4.2 改进原电路，实现逻辑功能 3.4.3 积木块化设计 §3-5 险象与竞争 3.5.1 不考虑延迟时的电路输出 3.5.2 逻辑险象及其消除 3.5.3 功能险象 3.5.4 输入信号的上升及下降时间引起的毛刺 3.5.5 动态险象 本章习题 第4章 时序电路基础 §4-1 集成锁存器和触发器 4.1.1 S-R锁存器 4.1.2 时钟S-R锁存器 4.1.3 D触发器 4.1.4 J-K触发器 4.1.5 T与T'触发器 4.1.6 脉冲反馈型异步计数器 §4-2 同步时序电路 4.2.1 同步时序电路的结构和代数法描述 4.2.2 米里型电路的状态表(图) 4.2.3 莫尔型电路的状态表(图) 4.2.4 功能表描述 4.2.5 自启动 4.2.6 异步信号的处理 §4-3 集成计数器及其应用 4.3.1 集成计数器 4.3.2 任意模计数器 4.3.3 计数器的扩展 4.3.4 集成计数器应用举例 §4-4 集成移位寄存器及其应用 4.4.1 集成移位寄存器 4.4.2 移位型计数器 4.4.3 串-并变换器及并-串变换器 4.4.4 线性移位寄存器 §4-5 存储器 4.5.1 随机访问存储器 4.5.2 只读存储器 4.5.3 存储器扩展与地址译码 §4-6 异步时序电路分析 4.6.1 脉冲异步电路分析 4.6.2 电平异步电路分析 §4-7 应用实例 4.7.1 数码预置电路 4.7.2 键盘扫描电路 4.7.3 报警装置的密码控制电路 本章习题 第5章 时序电路设计 §5-1 原始状态表的建立 §5-2 用触发器实现同步时序电路 5.2.1 状态化简 5.2.2 状态分配 5.2.3 导出激励方程和输出方程 5.2.4 设计举例 5.2.5 时钟偏移 §5-3 用MSI时序模块实现同步时序电路 5.3.1 用集成计数器设计同步时序电路 5.3.2 用多D触发器设计同步时序电路 §5-4 脉冲异步时序电路的设计 本章习题 第6章 数字系统设计与仿真 §6-1 算法流程图及ASM图 6.1.1 算法流程图 6.1.2 算法设计 6.1.3 电路划分与逻辑框图 6.1.4 数据处理单元的设计 6.1.5 ASM图 6.1.6 控制单元的设计 6.1.7 设计举例 §6-2 硬件描述语言VHDL 6.2.1 设计实体 6.2.2 数据对象、类型及运算符 6.2.3 顺序语句 6.2.4 并行语句 6.2.5 程序包与设计库 6.2.6 应用实例 §6-3 数字系统的仿真验证 6.3.1 逻辑验证和逻辑模拟 6.3.2 逻辑仿真的工具及应用 本章习题 第7章 可编程逻辑器件及其应用 §7-1 PLD的基本原理 7.1.1 PLD的基本组成 7.1.2 PLD的编程 7.1.3 阵列结构 7.1.4 PLD中阵列的表示方法 §7-2 简单可编程逻辑器件SPLD 7.2.1 可编程只读存储器PROM 7.2.2 可编程逻辑阵列PLA 7.2.3 可编程阵列逻辑PAL 7.2.4 通用阵列逻辑GAL 7.2.5 输出逻辑宏单元OLMC 7.2.6 OLMC的输出结构 §7-3 高密度可编程逻辑器件HDPLD 7.3.1 HDPLD概述 7.3.2 HDPLD组成 7.3.3 HDPLD的宏单元 7.3.4 HDPLD的输入/输出单元 7.3.5 HDPLD的可编程连线资源 7.3.6 ISP和ICR编程技术 §7-4 用PLD实现数字系统 7.4.1 常用PLD器件与开发工具 7.4.2 设计流程 7.4.3 设计实例 本章习题 第8章 数字电路测试和可测试设计 §8-1 数字电路的故障检测 8.1.1 故障模型 8.1.2 用通路敏化法导出测试码 8.1.3 构成完全检测测试集 8.1.4 伪穷举测试和伪随机测试 8.1.5 同步时序电路的测试 §8-2 数字电路的可测试设计 8.2.1 可控制性和可观察性 8.2.2 改善电路可测试性的方法 8.2.3 扫描设计技术 §8-3 边界扫描设计 8.3.1 边界扫描芯片的结构 8.3.2 利用边界扫描设计进行板级故障检测 §8-4 内自测试 8.4.1 测试设备和内自测试组成 8.4.2 特征分析器 8.4.3 内建逻辑模块观察器 本章习题 第9章 集成数模和模数转换器的原理与组成 §9-1 集成数模转换器 9.1.1 常用D/A转换技术 9.1.2 集成DAC的组成 9.1.3 DAC的主要技术参数 9.1.4 集成DAc芯片的选择 9.1.5 典型集成DAc应用举例 §9-2 集成模数转换器 9.2.1 A/D转换的一般过程 9.2.2 常用A/D转换技术 9.2.3 集成ADc的组成 9.2.4 ADc的主要技术参数 9.2.5 集成ADC芯片的选择 9.2.6 典型集成ADC应用举例 §9-3 ADC和DAC的应用实例--数据采集和控制系统 9.3.1 系统功能 9.3.2 系统方案 9.3.3 电路设计 本章习题 参考书目 汉英名词术语对照

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