内容简介
本书利用傅立叶分析和矩阵等不同的数学工具,从不同的角度逐步深入地分析了容栅测量系统的基本工作原理,并在此基础上对容栅传感器的原理性误差和结构性误差进行了分析,进而对容栅测量系统的空间平均效应和时间平均效应进行了叙述,最后简要介绍了数显卡尺集成电路。
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作者:张增耀,骆家贤 著出版社:中国质检出版社(原中国计量出版社)出版时间:2002年11月
- 版 次:1
- 页 数:104
- 字 数:162000
- 印刷时间:2002年11月01日
- 开 本:16开
- 纸 张:胶版纸
- 包 装:平装
- 是否套装:否
- 国际标准书号ISBN:9787502616847