系统可靠性评定方法研究

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  • 印刷时间:2007年01月01日
  • 开 本:
  • 纸 张:胶版纸
  • 包 装:平装
  • 是否套装:否
  • 国际标准书号ISBN:9787030166715
作者:吴和成 著出版社:科学出版社出版时间:2006年02月 
内容简介
本书对元件及系统可靠性置信限的确定方法进行了较为系统的研究,是作者多年来从事系统可靠性评定方法研究工作的成果。全书共分6章:第1章简述了已有的系统可靠性评定的主要工作,其余5章的内容主要包括基于成败型元件、寿命型元件、正态型元件及对数正态型元件或系统的不同试验数据,研究给定置信度下确定元件可靠性的置信限、串联系统可靠性的置信限、并联系统可靠性的置信限、串并联系统和并串联系统可靠性的置信限、贮备系统可靠性的置信限、元件及系统贮存可靠性的置信限和无失效试验数据情形下元件及系统可靠性的置信限的经典精确方法和近似方法。
本书可供可靠性研究人员和有关工程技术人员使用,对高等院校相关专业的教师、研究生和本科生也有参考价值。
目  录

前言
第1章 绪论
第2章 元件可靠性的置信限
2.1 成败型元件可靠性的经典精确置信限
2.2 元件可靠性的近似置信限
2.3 基于Pascal数据成败型元件可靠性的精确置信限
2.4 基于成败型数据及分组数据指数型元件失效率的置信限
2.5 基于隐蔽数据指数型元件可靠性的置信限
2.6 指数型元件可靠性置信限的条件中位数法
2.7 基于成败型试验数据指数型元件失效率精确置信限及Bayes置信限
2.8 基于隐蔽的系统寿命数据元件可靠性的估计
2.9 双参数Burr型元件可靠性的近似置信限
2.10 丢失部分数据时指数型元件寿命分布参数的估计

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