半导体探测器X射线能谱仪通则

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  • 版 次:1
  • 页 数:6
  • 字 数:14000
  • 印刷时间:2007年06月01日
  • 开 本:
  • 纸 张:胶版纸
  • 包 装:平装
  • 是否套装:否
  • 国际标准书号ISBN:155066129498
作者:本社 编出版社:中国标准出版社出版时间:2007年11月 
内容简介
本标准等同采用ISO 15632:2002《半导体探测器X射线能谱仪通则》。
  本标准的附录A、附录B为规范性附录。
  本标准由全国微束分析标准化技术委员会提出。
  本标准由全国微束分析标准化技术委员会归口。

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