内容简介
《现代物理基础丛书·典藏版：粉末衍射法测定晶体结构（上册） X射线衍射结构晶体学基础（第二版）》：
晶体结构是了解固体材料性质的重要基础，X射线粉末衍射法是提供有关晶体结构信息的主要方法之一。本书除了扼要介绍X射线衍射的晶体学基础、化合物结构的晶体化学基本概念、X射线粉末衍射的实验方法，以及衍射线的位置和峰形及强度的测定外，还比较系统全面地论述了粉末衍射图谱的指标化、点阵常数的精确测量、粉末衍射测定新型化合物晶体结构的各种方法及里特沃尔德（Rietveld）法全谱拟合修正晶体结构、固溶体类型与超结构的测定，以及键价理论在离子晶体结构分析中的应用。重点阐述粉末衍射结构分析从头计算方法。
本书可供从事X射线晶体学和材料科学的科技工作者，以及高等院校有关专业的师生参考。
《现代物理基础丛书·典藏版：粉末衍射法测定晶体结构（下册） X射线衍射在材料科学中的应用（第二版）》：
晶体结构是了解固体材料性质的重要基础，X射线粉末衍射法是提供有关晶体结构信息的主要方法之一。本书除了扼要介绍X射线衍射的晶体学基础、化合物结构的晶体化学基本概念、X射线粉末衍射的实验方法，以及衍射线的位置和峰形及强度的测定外，还比较系统全面地论述了粉末衍射图谱的指标化、点阵常数的精确测量、粉末衍射测定新型化合物晶体结构的各种方法及里特沃尔德（Rietveld）法全谱拟合修正晶体结构、固溶体类型与超结构的测定，以及键价理论在离子晶体结构分析中的应用。重点阐述粉末衍射结构分析从头计算方法。
本书可供从事X射线晶体学和材料科学的科技工作者，以及高等院校有关专业的师生参考。
《现代物理基础丛书·典藏版：粉末衍射法测定晶体结构（下册） X射线衍射在材料科学中的应用（第二版）》：