微电子计量测试技术

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  • 版 次:1
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  • 字 数:
  • 印刷时间:2009年05月01日
  • 开 本:16开
  • 纸 张:胶版纸
  • 包 装:平装
  • 是否套装:否
  • 国际标准书号ISBN:9787561225165
作者:沈森祖 等著出版社:西北工业大学出版社出版时间:2009年05月 
内容简介

《微电子计量测试技术》对微电子计量技术、微电子测试技术、微电子测试设备以及微电子测试程序设计,从概念到具体的技术细节,都作了系统的介绍,具有很好的实用价值。我相信,《微电子计量测试技术》对从事微电子计量测试的专业技术人员、相关的管理干部,以及相关专业的学生们都有很好的参考价值。

作者简介

  沈森祖,男,浙江省桐乡市人,研究员。原任国防微电子一级计量站常务副站长,中船重工集团公司第七○九所第六研究室主任兼微电子测试校准实验室首席执行者。1977年毕业于南开大学数学系,进所后从事操作系统研究工作,1983年起负责微电子测试研究。在主持检测、计量工作的25年中,用软件工程和可测性设计的思想和方法开发测试程序,解决测试程序开发中的规范管理和可靠性验证。解决过PLD自动测试操作平台设计模拟算法、自动生成和无网卡异种机互连互操作等关键技术。在微电子计量技术,测试程序的设计、开发,集成电路变量的相关分析和测试设备检定方法等研究中有独到见地。曾获两项部、省级科技进步奖。先后在国家中文核心刊物和国际学术会议上发表过数十篇论文。

目  录
第一部分 基本概念
第1章 微电子计量测试的基本概念
1.1 微电子计量的基本概念
1.1.1 微电子计量的目的与任务
1.1.2 微电子计量的技术领域和地位
1.1.3 微电子计量的工作和研究范围
1.1.4 微电子计量的单位制
1.1.5 微电子计量的主要术语和名词
1.1.5.1 微电子器件
1.1.5.2 微电子器件参数
1.1.5.3 测试设备
1.1.5.4 (测试设备的)系统量
1.1.5.5 工程量
1.1.5.6 系统量和工程量的对应关系

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