机电系统机内测试降虚警技术

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  • 版 次:1
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  • 印刷时间:2009年09月01日
  • 开 本:16开
  • 纸 张:胶版纸
  • 包 装:精装
  • 是否套装:否
  • 国际标准书号ISBN:9787030256515
  • 丛书名:装备测试性工程系列丛书
作者:邱静 等著出版社:科学出版社出版时间:2009年09月 
内容简介
测试性与机内测试是当前国内外装备设计、测试与维修保障领域研究和应用的热点,开展机内测试虚警抑制和降虚警技术的研究具有重要的学术价值和工程实际应用价值。本书针对机电系统机内测试广泛存在的虚警问题进行了系统的论述:对虚警的产生原因、机理及表现形式进行深入分析和建模;根据机电系统监控与诊断的特点,从基于征兆的监控诊断虚警、基于模型的监控诊断虚警和时间应力导致的虚警等角度,详细阐述了虚警抑制和降虚警的原理、模型和技术方法;给出了降虚警技术在典型机电系统中的应用案例。
本书可作为高等院校相关专业研究生和高年级本科生的参考书,也可供从事装备设计、测试与维修保障的科研和工程技术人员参考。
目  录
前言
第1章 绪论
1.1 机电系统BIT概述
1.1.1 BIT基本概念
1.1.2 BIT技术发展历程
1.1.3 机电系统BIT基本概念及发展历程
1.2 机电系统BIT降虚警技术研究现状
1.2.1 BIT虚警概念及影响
1.2.2 BIT降虚警技术研究现状
1.2.3 机电系统BIT降虚警技术研究现状
1.3 机电系统BIT降虚警技术体系
1.3.1 机电系统BIT虚警特点
1.3.2 机电系统BIT降虚警技术的总体框架
1.4 本书篇章结构
在线试读部分章节
第1章 绪论
1.3 机电系统BIT降虚警技术体系
1.3.1 机电系统BIT虚警特点
机电系统由于综合电子与机械系统,在功能、结构、工作模式和工作环境等方面与电子系统存在较大的差异,相应的故障模式更为复杂,测试与诊断的复杂性显著增加,其BIT虚警问题更为突出,主要体现在以下几个方面:
(1)机电系统的工况环境相比电子系统更加多变和恶劣,工况成为判别系统正常运行与否的重要参数。
(2)机电系统的结构类型和功能模块,不像电子系统的结构和功能模块那样规范,其动部件较多,加之工作环境、机械运动、噪声等影响,结构会损伤并累积,故障、虚警产生和发展的原因、机理更加复杂,故障表现形式多样,故障程度不一。
(3)机电系统的状态信息获取较大地依赖于传感技术,由于机电系统的结构和功能复杂多样,信号种类多样、量级和变化范围大、稳定性较差、背景噪声和干扰较大,运动部件多,传感器安装条件限制等,其状态信息更难于正确获取和传输。
(4)机电系统状态、行为、故障具有较强的模糊性和不确定性,状态信号与故障间对应关系复杂,导致机电系统BIT故障特征提取、诊断与决策都比较困难。
这些因素使得机电系统BIT虚警问题更加复杂,也导致机电系统降低BIT虚警更为棘手,因而迫切需要开展机电系统BIT虚警问题研究。
……

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